- 실리콘 수명주기 전반에 걸쳐 진보된 결정론적 테스트 지원
- IC 설계 검증 DFT(테스트 용이화 설계) 솔루션, 업계 최초의 인시스템 테스트 컨트롤러

지멘스 디지털 인더스트리 소프트웨어 지멘스 ED A 사업부(http://www.siemens.com/eda)가 지난 12월 12일, 차세대 집적 회로(IC, Integrated Circuit)의 설계 단계에서 칩의 공정상 결함이 있는지 체크하는 획기적인 테스트 용이화 설계(DFT, Design-for-Test) 솔루션인 ‘테센트 인시스템 테스트(Tessent™ In-System Test)’ 소프트웨어를 출시했다.
또 노후화 및 환경 요인으로 유발되는 Silent Data Corruption/Errors(SDC/SDE)와 같은 중요한 문제를 해결하기 위해 설계된 테센트 인시스템 테스트는 업계를 선도하는 지멘스의 테센트 스트리밍 스캔 네트워크(Tessent™ Streaming Scan Network) 소프트웨어와 함께 작동하도록 특별히 설계된 업계 최초의 인시스템 테스트 컨트롤러이다. 호환성을 통해 고객은 제품 수명 주기 동안 시스템 내에서 임베디드 결정론적 테스트 패턴을 적용할 수 있으며, IC와 이를 구동하는 애플리케이션의 안정성과 보안, 완전한 기능을 유지할 수 있다.
지멘스의 테센트 미션모드(Tessent™ MissionMode)와 테센트 스트리밍 스캔 네트워크 소프트웨어의 성공을 기반으로, 테센트 인시스템 테스트는 지멘스의 테센트 테스트컴프레스(TestKompress™) 소프트웨어로 생성된 결정론적 테스트 패턴의 원활한 통합을 가능하게 한다. 이를 통해 고객은 시스템 내 애플리케이션에 기존 IJTAG 및 SSN 기반 패턴을 재사용하는 동시에 전반적인 칩 구조 설계를 개선하고, 테스트 시간을 단축할 수 있다.
또 지멘스의 테센트 인시스템 테스트 소프트웨어를 사용하면 고객은 테센트 테스트컴프레스와 SSN을 사용하여 생성된 임베디드 결정론적 테스트 패턴을 업계 표준 APB 또는 AXI 버스 인터페이스를 통해 인시스템 테스트 컨트롤러에 직접 적용할 수 있다. 시스템 내에서 적용되는 결정론적 테스트 패턴은 사전 정의된 테스트 기간 내에서 최고 수준의 테스트 품질을 제공할 뿐만 아니라, 디바이스의 수명 주기에 따라 테스트 내용을 변경할 수 있는 기능을 제공한다. 이러한 기능은 자동차, 항공우주, 의료기기 등 안전이 중요한 애플리케이션에 중점을 둔 산업에 특히 중요하다.

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